高低溫實(shí)驗(yàn)箱是用于電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件、資料進(jìn)行高溫或低溫實(shí)驗(yàn)，檢測(cè)其產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)送和使用時(shí)的適應(yīng)性；其測(cè)驗(yàn)辦法首要還是要根據(jù)GB/T10592-2008的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行；溫度測(cè)驗(yàn)的辦法其中包括：測(cè)驗(yàn)點(diǎn)的測(cè)驗(yàn)程序、方位及數(shù)量、數(shù)據(jù)處理和實(shí)驗(yàn)結(jié)果；在下面小編會(huì)講到；

 

　　1.測(cè)驗(yàn)點(diǎn)的測(cè)驗(yàn)程序：在實(shí)驗(yàn)箱可調(diào)的范圍內(nèi)，選取標(biāo)稱溫度和標(biāo)稱溫度，將實(shí)驗(yàn)箱按先低溫后高溫的程序運(yùn)轉(zhuǎn)，在實(shí)驗(yàn)空間的中心點(diǎn)的溫度達(dá)到測(cè)驗(yàn)溫度并且堅(jiān)持穩(wěn)定2小時(shí)，在30分鐘內(nèi)每一分鐘測(cè)驗(yàn)一切測(cè)驗(yàn)點(diǎn)的溫度1次，共30次；

 

　　2.測(cè)驗(yàn)點(diǎn)的方位：在實(shí)驗(yàn)空間內(nèi)定出上、中、下三個(gè)水平測(cè)驗(yàn)面，簡(jiǎn)稱上層、中層、基層；上層工作室的頂面的間隔是工作室高度的十分之一，中層經(jīng)過工作室?guī)自S中心，下曾在哎層樣品架上方10毫米處；測(cè)驗(yàn)點(diǎn)坐落三個(gè)此時(shí)面上，中心測(cè)驗(yàn)點(diǎn)坐落工作室?guī)自S中心，其余測(cè)驗(yàn)點(diǎn)在工作室壁的間隔為各自邊長(zhǎng)的十分之一，但對(duì)工作室容積不大于1.3米的實(shí)驗(yàn)箱，高句麗不小于50毫米；

 

　　3.測(cè)驗(yàn)點(diǎn)的數(shù)量：測(cè)驗(yàn)點(diǎn)的數(shù)量與工作室容積巨細(xì)的關(guān)系為：a.工作室容積不大于2m3時(shí)，溫度測(cè)驗(yàn)點(diǎn)為9個(gè)；b.工作室容積大于2m3時(shí)，溫度測(cè)驗(yàn)點(diǎn)為15個(gè)，c.當(dāng)工作室容積大于50m3時(shí)，溫濕度測(cè)驗(yàn)點(diǎn)的數(shù)量能夠適當(dāng)添加；

 

　　后文持續(xù)最正確的高低溫實(shí)驗(yàn)箱的測(cè)驗(yàn)辦法（下）